可测试性设计与ATPG入门资料
资源文件介绍
本仓库提供了一个名为“可测试性设计与ATPG.ppt”的资源文件，该文件是一份非常详细的DFT（Design for Testability，可测试性设计）入门资料。
内容概述
该PPT文件详细介绍了以下内容：
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常见的DFT模型：深入讲解了各种常见的可测试性设计模型，帮助读者理解如何在设计阶段考虑测试需求。
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Scan mode测试技术：详细介绍了Scan mode测试技术，这是一种广泛应用于数字电路测试的方法，通过将电路中的寄存器转换为可扫描的结构，大大提高了测试覆盖率。
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ATPG Flow：最后，文件还介绍了ATPG（Automatic Test Pattern Generation，自动测试向量生成）的流程，帮助读者了解如何自动生成测试向量以验证电路的正确性。
适用人群
该资源文件适合以下人群阅读：
- 电子工程、计算机工程等相关专业的学生和研究人员。
- 从事芯片设计、测试和验证的工程师。
- 对DFT和ATPG技术感兴趣的技术爱好者。
如何使用
- 下载本仓库中的“可测试性设计与ATPG.ppt”文件。
- 使用Microsoft PowerPoint或其他兼容的演示文稿软件打开文件。
- 按照PPT的顺序逐步学习，理解每个部分的内容。
贡献与反馈
如果您在使用过程中有任何问题或建议，欢迎通过GitHub的Issue功能提出。我们非常欢迎您的反馈，并期待您的贡献！
希望这份资料能够帮助您更好地理解可测试性设计与ATPG技术！