IC测试的基本原理(中文)
资源描述
本资源文件详细介绍了IC测试的基本原理，涵盖了半导体和测试设备的基础知识、半导体测试的基础概念以及基于PMU的开短路测试方法。以下是资源的主要内容概述：
第1章 认识半导体和测试设备
- 第1节 晶圆、晶片和封装
- 第2节 自动测试设备
- 第3节 半导体技术
- 第4节 数字和模拟电路
- 第5节 测试系统的种类
- 第6节 测试负载板（LoadBoard）
- 第7节 探针卡（ProbeCard）
第2章 半导体测试基础
- 第1节 基础术语
- 第2节 正确的测试方法
- 第3节 测试系统
- 第4节 PMU
- 第5节 管脚电路
- 第6节 测试开发基本规则
第3章 基于PMU的开短路测试
- 第1节 测试目的
- 第2节 测试方法
适用人群
本资源适用于对半导体测试感兴趣的工程师、学生以及相关领域的研究人员。无论你是初学者还是有一定经验的专业人士，这份资源都能为你提供有价值的知识和参考。
使用建议
建议读者按照章节顺序阅读，以便更好地理解IC测试的基本原理和实际应用。每章节都包含了详细的解释和实际案例，帮助读者深入理解相关概念。
贡献与反馈
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希望这份资源能够帮助你更好地理解和掌握IC测试的基本原理！