W25Q系列中文模块资料文档及驱动代码
资源内容
本仓库提供了W25Q系列（包括W25Q16、W25Q32、W25Q64、W25Q128）的中文模块资料文档、驱动代码（C语言）、测试代码（C语言）、原理图以及测试文件（Hex格式）。
资源描述
W25Q32、W25Q64、W25Q128等型号的存储芯片均为32M-bit（4MB字节），其内部存储结构可划分为64块，每块64KB；每块又可划分为16个扇区，每个扇区4KB；每个扇区又可划分为16页，每页256字节。本资料文档详细讲解了W25Q系列的内部存储结构，从字节地址、页地址、扇区地址和块地址等多个角度详细介绍了其存储结构。
文件列表
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W25Q系列中文模块资料文档.pdf
详细介绍了W25Q系列的内部存储结构，包括字节地址、页地址、扇区地址和块地址的详细说明。 -
驱动代码（C语言）
提供了W25Q系列的驱动代码，方便开发者快速集成到项目中。 -
测试代码（C语言）
提供了测试代码，用于验证W25Q系列芯片的功能和性能。 -
原理图
提供了W25Q系列芯片的原理图，方便硬件工程师进行电路设计。 -
测试文件（Hex格式）
提供了测试文件，用于测试W25Q系列芯片的读写功能。
使用说明
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阅读文档
首先阅读“W25Q系列中文模块资料文档.pdf”，了解W25Q系列的内部存储结构和使用方法。 -
集成驱动代码
将提供的驱动代码（C语言）集成到您的项目中，根据文档中的说明进行配置和使用。 -
运行测试代码
使用提供的测试代码（C语言）对W25Q系列芯片进行功能测试，确保其正常工作。 -
参考原理图
根据提供的原理图进行硬件设计，确保电路连接正确。 -
使用测试文件
使用提供的测试文件（Hex格式）对W25Q系列芯片进行读写测试，验证其功能。
注意事项
- 在使用驱动代码和测试代码时，请确保硬件连接正确，避免因连接错误导致的芯片损坏。
- 在进行读写测试时，请注意数据的安全性，避免误操作导致数据丢失。
贡献
如果您在使用过程中发现任何问题或有改进建议，欢迎提交Issue或Pull Request。
许可证
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