STM32光敏电阻光照强度检测示例
资源介绍
本仓库提供了一个基于STM32F103C8T6微控制器的示例代码，用于通过ADC1模块读取光敏电阻的值，并将其转换为光照强度数据。通过串口通信，用户可以实时查看光敏电阻采集到的光照强度数据。
资源文件
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STM32通过ADC1读取光敏电阻的值转换光照强度.pdf
该PDF文件详细介绍了如何使用STM32F103C8T6微控制器读取光敏电阻的值，并将其转换为光照强度数据。文档中包含了硬件连接图、代码实现步骤以及串口输出数据的解析方法。
使用说明
- 硬件准备：
- STM32F103C8T6开发板
- 光敏电阻模块
- USB转TTL串口模块
- 软件准备：
- Keil uVision或其他STM32开发环境
- 串口调试助手（如SecureCRT、Putty等）
- 操作步骤：
- 按照PDF文件中的硬件连接图，将光敏电阻模块连接到STM32开发板上。
- 使用Keil uVision打开示例代码，编译并下载到STM32开发板。
- 通过USB转TTL串口模块连接STM32开发板与电脑，打开串口调试助手。
- 上电后，STM32会通过串口输出光敏电阻采集到的光照强度数据。
注意事项
- 请确保硬件连接正确，避免短路或连接错误导致设备损坏。
- 在调试过程中，建议使用示波器或万用表检查信号的稳定性。
- 如果遇到问题，请参考PDF文件中的常见问题解答部分，或联系作者获取帮助。
贡献与反馈
如果您在使用过程中发现任何问题或有改进建议，欢迎提交Issue或Pull Request。我们非常乐意与您一起完善这个项目。
许可证
本项目采用MIT许可证，您可以自由使用、修改和分发代码，但请保留原作者的版权声明。