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资源文件描述

本资源文件提供了关于JESD22标准的详细介绍，特别是AEC-Q100和AEC-Q101两个标准的测试方法。AEC-Q100是基于集成电路应力测试认证的失效机理的标准，包含了以下12个测试方法：

1. AEC-Q100-001 邦线切应力测试
2. AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试
3. AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试
4. AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试
5. AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试
6. AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试
7. AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级
8. AEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR）
9. AEC-Q100-009 电分配的评估
10. AEC-Q100-010 锡球剪切测试
11. AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试
12. AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述

AEC-Q101是汽车级半导体分立器件应力测试认证，包含了以下6个测试方法：

1. AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试
2. AEC-Q101-002 机械模式静电放电测试

使用说明

本资源文件适用于需要了解JESD22标准及其测试方法的工程师、研究人员和相关领域的专业人士。通过下载并阅读本文件，您将获得关于AEC-Q100和AEC-Q101标准的详细信息，帮助您更好地理解和应用这些标准。

下载方式

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