发射本振泄漏—零中频架构中令人烦恼的问题
描述
在零中频发射机中，发射本振泄漏（Transmit Local Oscillator Leakage，简称发射LOL）是一个令人烦恼的问题。本文详细描述了发射LOL的产生途径，并提供了校准方案及其实现步骤。零中频架构虽然具有一些重要优势，但也面临着一些挑战，发射LOL便是其中之一。未校正的发射LOL会在所需发射范围内产生无用发射，可能导致违反系统规范的风险。
本文深入探讨了发射LOL的问题，并介绍了在ADI的RadioVerse™ 收发器系列中实现的技术，这些技术能够有效消除发射LOL问题。如果能够将发射LOL降低到足够低的水平，使其不再导致系统或性能问题，那么我们或许就可以不再为LOL问题而烦恼！
资源文件内容
该资源文件详细阐述了以下内容：
- 发射LOL的产生途径：详细描述了在零中频发射机中，发射LOL是如何产生的，以及其可能的路径。
- 校准方案：提供了针对发射LOL的校准方案，确保发射LOL能够被有效控制。
- 实现步骤：详细介绍了校准方案的实现步骤，帮助读者理解和实施这些技术。
- 技术应用：介绍了在ADI的RadioVerse™ 收发器系列中，如何应用这些技术来消除发射LOL问题。
通过阅读该资源文件，读者将能够深入理解发射LOL问题，并掌握有效的校准和控制方法，从而提升零中频发射机的性能和可靠性。