华为硬件可测性设计规范
资源文件介绍
本仓库提供了一个名为“华为硬件可测性设计规范.pdf”的资源文件下载。该文件详细描述了华为硬件可测性设计的相关规范和标准，涵盖了从功能测试到ICT测试的多个方面。
文件内容概述
1. 范围
文件首先定义了华为硬件可测性设计规范的适用范围，明确了该规范的目标和应用场景。
2. 定义
在定义部分，文件详细解释了与硬件可测性设计相关的术语和概念，为后续内容的理解提供了基础。
3. 功能测试可测性设计规范
3.1 功能测试装备原理说明
介绍了功能测试装备的工作原理和基本结构。
3.2 单板功能测试可测性设计
详细描述了单板功能测试的可测性设计方法，包括：
- 3.2.1 机械结构的可测性设计：如何通过机械结构设计提高测试的可行性。
- 3.2.2 自检和自环：自检和自环技术的应用及其在测试中的作用。
- 3.2.3 测试夹具：测试夹具的设计和使用规范。
- 3.2.4 其他：其他与单板功能测试相关的可测性设计方法。
4. ICT可测性设计规范
4.1 机械设计规范
详细说明了ICT测试中的机械设计规范，包括：
- 4.1.1 测试点：测试点的选择和布局。
- 4.1.2 Tooling Holes：Tooling Holes的设计和使用。
- 4.1.3 两个测试点中心间隔：测试点之间的最小间隔要求。
- 4.1.4 测试点到其它物体的间距：测试点与其他物体之间的最小间距。
- 4.1.5 焊锡面元件高度：焊锡面元件的高度限制。
- 4.1.6 其他：其他与机械设计相关的规范。
4.2 电路设计规范
详细说明了ICT测试中的电路设计规范，包括：
- 4.2.1 芯片的控制引脚：芯片控制引脚的设计和使用。
- 4.2.2 反馈环路：反馈环路的设计和优化。
- 4.2.3 边界扫描设计：边界扫描技术的应用。
- 4.2.4 NAND-Tree：NAND-Tree技术的应用。
- 4.2.5 FPGA和EPLD设计：FPGA和EPLD的设计规范。
- 4.2.6 在线编程：在线编程技术的应用。
- 4.2.7 减少测试点的方法：减少测试点数量的设计方法。
- 4.2.8 其他：其他与电路设计相关的规范。
适用对象
该规范适用于硬件设计工程师、测试工程师以及相关领域的技术人员，帮助他们在硬件设计和测试过程中遵循统一的标准，提高产品的可测性和可靠性。
下载说明
请点击仓库中的“华为硬件可测性设计规范.pdf”文件进行下载，获取详细的规范内容。