JTAG 标准 IEEE STD 1149.1-2013 (高清，非扫描版，带 TOC )
欢迎使用本仓库资源，您将获得的是 IEEE STD 1149.1-2013 的权威标准文档。本文件聚焦于“测试访问端口和边界扫描架构”，是电子工程领域不可或缺的技术资料。
标准简介
JTAG（Joint Test Action Group，联合测试行动小组） 是一种国际标准测试协议，主要用于集成电路的内部测试。此标准由IEEE发布，编号为IEEE 1149.1，首次发布于1990年，并在2013年进行了重要更新，即我们所提供的版本——IEEE STD 1149.1-2013。这一版次的标准对边界扫描技术进行了详尽的规范，对于电路设计、测试工程师以及相关硬件开发人员来说，是极其重要的参考文献。
文件特点
- 高清格式：保证了文本的清晰可读，方便用户在线阅读或打印，无需担心因分辨率不足而影响阅读体验。
- 非扫描版：与扫描版文档不同，本资源是以原始文档为基础制作，确保了内容的精确性和格式的一致性。
- 带有目录（TOC）：用户可以轻松导航至文档中的具体章节，提高了查找信息的效率，非常适合快速学习和查阅。
使用范围
- 电子工程师在进行电路板设计时，用于实现高效的芯片级和系统级测试。
- 测试工程师利用JTAG接口执行边界扫描测试，检测PCB上的连接错误。
- 教育机构和学生在学习数字电路和嵌入式系统课程时作为参考资料。
- 硬件开发者优化其产品测试流程，确保产品质量。
注意事项
- 请尊重知识产权，合理使用此文档进行学习和研究目的。
- 在应用本标准进行设计和测试时，建议结合最新的行业实践和技术进展。
获取此资源后，希望能助力您的项目开发和学习之旅，深化对JTAG技术的理解和应用。如有任何使用上的疑问，欢迎参与社区讨论，共同交流进步。