DSP28335片外FLASH读写实验CCS工程
简介
本资源文件提供了一个针对DSP28335芯片的片外FLASH读写实验的CCS工程。该实验程序旨在验证DSP28335芯片对外部FLASH的读写功能，并通过一系列操作确保数据的正确性。
实验内容
- 写入操作：
- 程序首先向外部FLASH的地址范围0x200000到0x20FFFF分别写入数据0xAAAA和0x5555。
- 读取操作：
- 写入完成后，程序从相同的地址范围读取数据。
- 数据比较：
- 读取的数据与写入的数据逐一进行比较，确保每一存储空间的数据一致。
- 如果所有数据一致，说明外部FLASH的读写操作正确无误。
- 最终写入：
- 在确认读写操作正确后，程序将自然数写入外部FLASH。
注意事项
- 在进行实验前，请确保已正确配置CCS开发环境，并连接好DSP28335芯片与外部FLASH。
- 实验过程中，请注意观察程序的运行状态，确保数据写入和读取的正确性。
适用对象
本实验适用于对DSP28335芯片及其外部FLASH读写操作感兴趣的开发者，尤其是嵌入式系统开发人员和电子工程专业的学生。
贡献与反馈
如果您在使用过程中遇到任何问题或有改进建议，欢迎通过GitHub的Issues功能提交反馈。我们非常乐意与您一起完善这个实验工程。